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熱刺激電流測(cè)量理論與應(yīng)用
熱刺激電流測(cè)量理論與應(yīng)用 熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐體等）的微觀參數(shù)，...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-27 14:04
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熱刺激電流試驗(yàn)儀產(chǎn)品介紹
熱刺激電流試驗(yàn)系統(tǒng)GEST-121AI一、設(shè)備概述：本儀器主要適用于在不同溫度下測(cè)試材料電阻的試驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)，主要測(cè)試材料的電阻溫度變化關(guān)系。儀器測(cè)試流程自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)和完成，并可以保存和導(dǎo)出試驗(yàn)...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-27 13:42
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炭黑電阻率值高與低的幾點(diǎn)重要因素?
炭黑電阻率值高與低的幾點(diǎn)重要因素?炭黑電阻率值高低的幾個(gè)重要因素如下：一、炭黑的結(jié)構(gòu)類型。炭黑結(jié)構(gòu)類型主要是分為單炭層結(jié)構(gòu)(即單一結(jié)構(gòu))和雙炭層結(jié)構(gòu)(經(jīng)典結(jié)構(gòu))，特點(diǎn)是電阻值要求高，雙炭層...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-26 13:48
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電阻率測(cè)試儀的工作原理
電阻率測(cè)試儀的工作原理 根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。電阻率測(cè)試儀，通常采用雙...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-26 13:27
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全自動(dòng)炭塊電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
全自動(dòng)炭塊電阻率測(cè)試儀-10寸觸摸屏產(chǎn)品名稱：全自動(dòng)炭塊電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：GEST-210參考標(biāo)準(zhǔn)：YST－－63.2-2006 鋁用炭素材料檢測(cè)方法 GB/T24525-200...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-26 13:03
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影響絕緣電阻的因素你能說(shuō)出幾條？
影響絕緣電阻的因素你能說(shuō)出幾條？測(cè)量絕緣電阻是采用直流高壓測(cè)量，有時(shí)候在現(xiàn)場(chǎng)使用時(shí)絕緣電阻受到外部影響，容易出現(xiàn)阻值亂跳，阻值不準(zhǔn)的情況，下面我們就看看影響絕緣電阻大小的因素有哪些？如果在遇...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-25 13:54
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測(cè)量絕緣電阻能發(fā)現(xiàn)哪些絕緣缺陷
測(cè)量絕緣電阻能發(fā)現(xiàn)哪些絕緣缺陷 測(cè)量絕緣電阻可以發(fā)現(xiàn)絕緣材料劣化、局部損傷或電氣設(shè)備表面污染等絕緣缺陷。1、測(cè)量絕緣電阻可以發(fā)現(xiàn)絕緣材料劣化的問(wèn)題。絕緣材料在使用過(guò)程中可能由于各種因素發(fā)生...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-25 13:35
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絕緣電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
全自動(dòng)絕緣電阻率測(cè)試儀（GEST-121A）符合標(biāo)準(zhǔn)：GBT31838.2-2019 固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分：電阻特性(DC方法) 體積電阻和體積電阻率第3部分：電阻特性（DC方...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-25 13:16
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